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国仪量子 SEM5000X 在高端微观表征领域具备重要应用价值,可实现亚纳米级结构的清晰成像与精细分析。其超高分辨场发射扫描电子显微系统结合稳定电子光学设计,有效提升成像对比度与分辨能力,满足纳米材料微观结构表征与半导体器件失效分析等高要求应用。设备适用于先进材料研究、芯片制造工艺分析及科研院所高端实验平台。品牌依托自主核心技术,体现出国产高端扫描电镜性能优势。

产品特点:

1.超高分辨率成像,达到了突破性的0.5 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV

2.样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术,挑战极限样品拍摄场景

3.高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计,可搭配整体罩壳设计,极大减弱环境对极限分辨率的影响

4.最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓,满足半导体和科研应用需求

参数名称规格说明
分辨率

0.5 nm @ 15 kV,SE

1.0 nm @ 1 kV,SE

放大倍率1 x~2500,000 x
加速电压20 V ~ 35kV
电子枪类型肖特基场发射电子枪
低真空模式最大180 Pa
摄像头双摄像头(光学导航+样品仓内监控)
样品台行程XY=110 mm,Z=65mm(XY轴支持升级至150mm)
T行程-10° ~+70°
R行程360°
探测器

镜筒内电子探测器:Inlens

仓室内电子探测器:ETD

操作软件Windows操作系统,中文SEM软件
导航光学导航、手势快捷导航、轨迹球(选配)
自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散


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