国仪量子 SEM4000X 在高精度微观表征领域具备突出的应用价值，可实现纳米级结构的清晰成像与稳定分析。其高分辨场发射扫描电子显微系统结合优化电子光学设计，有效提升成像分辨率与对比度，满足纳米材料微观结构表征与半导体器件工艺分析等高要求应用。设备适用于先进功能材料研究、芯片制造质量分析及科研院所高端实验平台。品牌依托自主核心技术，体现出国产高端扫描电镜性能与稳定性优势。

产品特点：

1.SEM4000X是一款稳定通用，灵活高效的场发射扫描电镜。

2.分辨率可达1.9nm @1.0kV，轻松应对各种类型样品的高分辨拍样挑战，可升级超级减速模式，进一步提升低压分辨率。

3.同时采用了多探测器技术，镜筒内电子探测器（UD）可探测SE和BSE信号，同时具有高分辨率性能。

4.仓内电子探测器（LD）采用了晶体闪烁体和光电倍增管，具备更高的灵敏度和高效性，图像具有很好的立体感。

5.中文操作软件，简单易用，丰富的自动化功能，如自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散、自动对中等等，可快速获取高分辨图像。