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国仪量子 SEM2100 在基础微观表征领域具有良好的应用价值,可满足实验室对常规形貌观察与结构分析的需求。其钨灯丝扫描电子显微系统结构成熟、运行稳定,能够实现可靠成像效果,适用于材料表面形貌分析、颗粒结构观察及教学科研实验应用。设备广泛服务于材料基础研究、地质与矿物分析及高校教学实验平台。品牌依托国产仪器制造经验,体现出基础型扫描电镜经济实用优势。

产品特点:

1.使用垂直相机拍摄的光学图片来进行样品导航,所见即所得,样品定位更直观更精确。

2.智能辅助消像散模式下,像散X、Y的数值会随着像素点改变,在最合适的像散值下,图片清晰度最高,从而快速完成像散的调节。

3.使用垂直相机拍摄的光学图片来进行样品导航,所见即所得,样品定位更直观更精确。

参数名称规格说明
分辨率

3.9 nm @ 20kV, SE

4.5 nm @ 20kV, BSE

放大倍率1 x~300,000 x
加速电压0.5 kV~30 kV
摄像头光学导航+样品仓内监控
样品台类型三轴,XYZ轴真空电机驱动
XY行程125mm
Z行程50mm
探测器背散射电子探测器 (BSED)
操作软件Windows操作系统,中文SEM软件
导航光学导航、手势快捷导航、轨迹球(选配)
自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散


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