精微高博动态比表面积测定仪 JW-DX 在材料表征领域具有重要应用价值，可实现样品比表面积与吸附特性的快速、准确测定。其动态气体吸附比表面积测试系统有效缩短测试周期，同时保证数据精度与一致性。设备广泛应用于粉体材料比表面积分析、催化剂性能评价及新能源材料研究等科研与工业领域。依托精微高博在材料分析仪器方面的技术积累，产品在稳定性、测试效率与数据可靠性方面表现突出，满足用户对高精度比表面积分析仪的专业需求。

1. 发明专利DX型仪器，不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算，完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定；（专利号20140320453.2）；

2. 峰形尖锐，每个样品吸附引起的氮浓度改变完全不被冲淡，样品测试灵敏度大幅提高，在保证吸附充分的条件下，大大提高了测试效率，一次完成4个样品的对比法测试只需约20min；

3. 4个，每个样品独立进行吸附过程，实现了多样品的无干扰、无差异测试，完全保证每个分析站测试结果的平行性，重复性误差≤± 1.0%；

4. 选配。外置式4站真空脱气机，可同时进行4个样品的脱气预处理，配合比表面仪主机同时使用，可大大提高测试效率。最高脱气温度400℃；（专利号第2516757号）；

5. 比表面仪器全自动控制及操作； 测试界面上动态显示每个样品的吸附或脱附过程，吸附峰或脱附峰实时显示，每个样品的峰面积及吸附量实时计算；对比法测试时，每个样品的比表面结果实时显示 测试数据自动保存为源文件，支持不联机离线分析，可拷贝； 动态真空加热脱气机配置微型真空泵及加热炉，炉体温度≦400°C±1°C，样品加热脱气后转移到比表面仪主机上即可进行测试。