X射线衍射仪可以检测哪些材料？

X射线衍射仪主要用于检测具有晶体结构的材料，常见样品包括金属材料、陶瓷材料、矿物材料、催化剂、电池正负极材料、固态电解质、药物晶型、纳米粉体、薄膜材料和功能涂层等。它可以分析材料的物相组成、晶体结构、结晶度、晶粒尺寸和杂相情况，帮助判断样品是否形成目标晶相，是否存在副产物或结构变化。

在实际应用中，粉末样品是 X射线衍射仪最常见的测试对象，例如氧化物粉体、磷酸铁锂、三元材料、分子筛、矿石粉末和陶瓷原料等。块体、片状样品和薄膜样品也可以进行测试，但需要根据样品形态选择合适的样品台和测试方式。对于易吸水、易氧化或对空气敏感的材料，可使用密封样品架或惰性气氛保护方式进行分析。

需要注意的是，X射线衍射仪更适合分析晶体结构和物相组成，并不是主要用来测元素含量的设备。如果需要检测元素种类和含量，通常需要配合 XRF、ICP、EDS 等仪器使用。对于材料研发、生产质检和失效分析来说，XRD 能够从结构层面提供非常关键的判断依据。